Opis
Głowica pracuje w trybie nadawczo-odbiorczym, co znacznie poprawia rozdzielczość przypowierzchniową badanego elementu i daje bardzo małą strefę martwą przy powierzchni. W porównaniu z klasyczną głowicą dwuprzetwornikową zapewnia większe pokrycie, lepsze obrazowanie i korzystniejszy stosunek sygnału do szumu.
Cechy
- Tryb nadawczo-odbiorczy (pulse and receive)
- Bardzo mała strefa martwa przy powierzchni
- Większe pokrycie niż klasyczna głowica dwuprzetwornikowa
- Lepszy stosunek sygnału do szumu
Dane techniczne
- Dostępne modele: 2.25DM7x4-2.71×3.0, 4DM16x2-1.0×3.0, 5DL16-0.75×5, 2.25DL32-0.6×12, 4DL32-1.0×10
- Częstotliwości: 2,25 / 4 / 5 MHz
- Liczba elementów: 32–64
- Podziałka Px: 0,6–2,71 mm
- Apertura czynna Lx: 12–32 mm
Dane techniczne wg katalogu producenta Doppler Electronic Technology (2024). X-TEST — wyłączny dystrybutor na Polskę, Litwę, Łotwę i Estonię.
