Opis
Jednokanałowa karta ultradźwiękowa ROBUST S1 łączy doskonały stosunek możliwości do ceny, wysoką niezawodność, szybką integrację i elastyczną rozbudowę, precyzyjnie odpowiadając na potrzeby badań podstawowych, zastosowań przenośnych i automatyki — kluczowe wymagania w wielu scenariuszach pracy. Produkt jest szeroko stosowany w badaniach materiałów lotniczych, badaniach nieniszczących części samochodowych, biomedycznym obrazowaniu ultradźwiękowym i innych dziedzinach. Zarówno przy pomiarze grubości, wykrywaniu nieciągłości, jak i w innych zastosowaniach ultradźwiękowych zapewnia dokładne i wiarygodne wyniki.
Najważniejsze cechy
- Uniwersalne złącza — Interfejs o dużej uniwersalności obsługuje wiele popularnych typów złączy. Umożliwia łatwe połączenie z urządzeniami zewnętrznymi — komputerami, czujnikami i wyświetlaczami — zapewniając szybką transmisję i wymianę danych bez konieczności stosowania złożonych przełączników, co oszczędza czas i koszty.
- Badanie szerokopasmowe — Szerokopasmowa charakterystyka pozwala precyzyjnie rejestrować i przetwarzać sygnały w szerszym zakresie częstotliwości. Zarówno przy drobnych nieciągłościach, jak i złożonej analizie właściwości materiału zapewnia czytelne i wiarygodne wyniki, odpowiadając na potrzeby różnych scenariuszy badawczych.
- Wysokie napięcie nadawania — Napięcie wyjściowe do 400 V dostarcza dużą energię do badań ultradźwiękowych. Nawet w złożonych warunkach i przy trudnych zadaniach zapewnia sygnałowi ultradźwiękowemu odpowiednią siłę i przenikliwość, poprawiając czułość i niezawodność badania.
Dane techniczne
| Parametr | Wartość |
|---|---|
| Konfiguracja | |
| Odbiór / nadawanie | 1/1 |
| Prędkość dźwięku | 340–15240 m/s |
| Nadajnik | |
| Tryb badania | PE / PC / TT / TOFD |
| Napięcie | 100 V / 200 V / 400 V |
| Kształt impulsu | impuls szpilkowy / ujemna fala prostokątna |
| Szerokość impulsu | 20–1000 ns, krok 2,5 ns |
| Czas narastania | <8 ns |
| PRF | 40 kHz |
| Odbiornik | |
| Wzmocnienie | 0–110 dB |
| Pasmo | 1–34,5 MHz |
| Akwizycja danych | |
| Częstotliwość próbkowania | 200 MHz |
| Przetwornik A/C | 16 bit |
| Maks. długość A-skanu | 65535 |
| Tryb prostowania | FW / HW+ / HW− / RF |
| Zasilanie | |
| DC | 15 V DC |
| Parametr | Wartość |
|---|---|
| Skanowanie i prezentacja | |
| Tryby prezentacji | A / B / C / wykres pasmowy / FFT |
| Jednostki | mm / cal |
| TCG | |
| Liczba punktów | 32 |
| Zakres wzmocnienia | 40 dB |
| Maks. nachylenie wzmocnienia | 40 dB/µs |
| Bramki | |
| Bramka | A/B/C/I + bramka użytkownika |
| Próg | 0–100% |
| Tryb bramki | głębokość / droga dźwięku |
| Złącza I/O | |
| Ethernet | 1000 Mb/s |
| Enkoder | dwuosiowy, LEMO 16-pin |
| Złącze synchronizacji | SMA |
| Obudowa | |
| Wymiary | 120 × 90 × 40 mm |
| Masa | 0,4 kg |
Parametry podane 1:1 za katalogiem producenta Doppler Electronic Technology (2026). X-TEST — wyłączny dystrybutor na Polskę, Litwę, Łotwę i Estonię.
