Opis
Głowice z wymienną linią opóźniającą z przodu, przy padaniu fali prostopadle do elementu. Wysokie pasmo i wąski impuls z linią opóźniającą zapewniają znakomitą rozdzielczość przypowierzchniową. Grubość linii opóźniającej decyduje o maksymalnej grubości badanego elementu — producent oferuje trzy grubości.
Cechy
- Wymienne linie opóźniające (dostępne osobno)
- Wysokie pasmo i wąski impuls
- Wyższa częstotliwość zwiększa rozdzielczość badania
- Długość i materiał linii na zamówienie
- Złącze Microdot (L5) boczne
Dane techniczne
- Częstotliwości: 2,25 / 3,5 / 5 / 10 / 15 / 20 MHz
- Średnice przetworników: 3 / 5 / 6 / 13 mm
- Długość standardowa: 5,5 mm dla Φ3 mm; 12,7 mm dla Φ5/6/13 mm
Zastosowania
- Bezpośrednie wykrywanie wad
- Dokładny pomiar grubości
- Wykrywanie wad przypowierzchniowych
- Badanie powierzchni krzywoliniowych
- Badanie elementów bardzo cienkich
Dane techniczne wg katalogu producenta Doppler Electronic Technology (2024). X-TEST — wyłączny dystrybutor na Polskę, Litwę, Łotwę i Estonię.
