Novascan V2 — defektoskop phased array

Defektoskop PAUT do 128 kanałów, próbkowanie 200 MHz, pasmo 0,3–25 MHz, ekran 12,1″, FMC/TFM i PWI/TFM w czasie rzeczywistym.

Na zamówienie

Sprzedaż obecnie w trybie B2B — złóż zapytanie, a przygotujemy wycenę i fakturę.

Zapytaj o produkt
SKU: NOVASCAN-V2 Kategorie: , ,

Opis

Novascan V2 to defektoskop ultradźwiękowy phased array łączący na jednej platformie badania FMC/TFM, PWI/TFM, PAUT, UT klasyczne i TOFD. Do 128 kanałów, częstotliwość powtarzania 40 kHz i przetwarzanie w czasie rzeczywistym pozwalają prowadzić szybką akwizycję przy zachowaniu wysokiej dokładności. Obrazowanie matrycowe TFM 3D uzupełnia inteligentne rozpoznawanie wad oraz szybki silnik danych z dużą pojemnością zapisu.

Najważniejsze cechy

  • Wyższe osiągi i prostsza obsługa — wyższe napięcie impulsu, szersze pasmo i szybsze próbkowanie; interfejs zoptymalizowany pod wydajną pracę
  • Szybka akwizycja — 128 kanałów, PRF 40 kHz, przetwarzanie w czasie rzeczywistym, wysoka precyzja
  • Badanie wielotechnikowe — FMC/TFM · PWI/TFM · PAUT · UT · TOFD na jednej platformie
  • Obrazowanie 3D i analiza inteligentna — matrycowe TFM 3D, inteligentne rozpoznawanie wad, duża pojemność zapisu, szybki silnik danych

Dane techniczne

Parametr Moduł phased array UT klasyczne
Konfiguracja
Kanały odbiorcze / nadawcze 64/128PR, 64/64PR, 32/128PR, 32/64PR 2 / 2
Prędkość 340–15240 m/s 340–15240 m/s
Nadajnik
Tryb pracy PE / PC / TT PE / PC / TT / TOFD
Napięcie 20 V–120 V / 10 V 100 V / 200 V / 400 V
Kształt impulsu dwubiegunowa fala prostokątna ujemna fala prostokątna
Szerokość impulsu 20–1250 ns / 2,5 ns 25–1000 ns / 2,5 ns
Czas narastania < 10 ns < 10 ns
PRF 40 kHz 24 kHz (12 kHz na kanał)
Opóźnienie 20 μs / 2,5 ns 20 μs / 2,5 ns
Odbiornik
Wzmocnienie 0–120 dB 0–120 dB
Pasmo 0,3–25 MHz 0,3–25 MHz
Opóźnienie 20 μs / 2,5 ns 20 μs / 2,5 ns
Akwizycja danych
Częstotliwość próbkowania 200 MHz 200 MHz
Przetwornik A/C 16 bit 16 bit
Typ ogniskowania głębokość rzeczywista / droga dźwięku / rzut / płaszczyzna ogniskowa / ogniskowanie dynamiczne NA
Tryb prostowania FW / HW+ / HW− / RF FW / HW+ / HW− / RF
Maksymalna długość A-skanu 16384 16384
Skanowanie i prezentacja
Typ TFM / liniowe / sektorowe / złożone NA
Tryb prezentacji A/B/S/D/C/FMC-TFM/PWI-TFM/3D/TopC/wykres pasmowy A/B/C/wykres pasmowy
Jednostki mm / cal mm / cal
TCG
Liczba punktów 16 16
Zakres wzmocnienia −18 do 40 dB −18 do 40 dB
Maks. nachylenie 40 dB / 10 ns 40 dB / μs
Bramki
Bramki A / B / C / I + bramka własna
Próg 0–100%
TFM
Liczba punktów 1024 × 1024
Zapis danych
Pamięć EMMC 128 GB + SSD (maks. 1 TB)
Raport
Formaty WORD, PDF, EXCEL
Ekran
Przekątna 12,1 cala
Rozdzielczość 1280 × 800 px
Typ przemysłowy dotykowy TFT LCD
Porty I/O
USB 2 × USB 3.0 + 1 × USB 2.0
Ethernet 1; 1000 Mb/s
Wyjście wideo HDMI
Enkoder LEMO 16-pin
Złącze wielofunkcyjne LEMO 14-pin
Języki
Obsługiwane chiński / angielski / rosyjski / francuski / niemiecki / włoski
Zasilanie
Napięcie zasilania DC 15 V DC
Akumulator litowy 10,8 V / 97,2 Wh (obsługa wymiany na gorąco)
Czas pracy ciągłej ok. 5 godzin
Obudowa
Wymiary 367 × 259 × 129 mm
Masa 4,9 kg (bez akumulatora) · 5,4 kg (z jednym) · 5,9 kg (z dwoma)
Stopień ochrony IP65

Parametry podane 1:1 za katalogiem producenta Doppler Electronic Technology (2026, wersja EN). X-TEST — wyłączny dystrybutor na Polskę, Litwę, Łotwę i Estonię.

Informacje dodatkowe

Zastosowanie

Badanie spoin, Badanie śrub